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    熒光X線膜厚計

    熒光X線膜厚計
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    供應數量:
    1224
    發布日期:
    2025/1/7
    有效日期:
    2025/7/8
    原 產 地:
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    1224
    產品報價:
      [詳細資料]
    鍍層測厚儀中文視窗操作測量係統
    解析度0.001μm
    小測量麵積0.1mmφ
    可測量合金層之厚度和組成比例
    可測量兩層以上鍍層之個別厚度
    籍由光譜分析可判定被測物之元素
    適用對象:IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業
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